4 отношения: ПРЭМ, Арденне, Манфред фон, Сканирующий гелиевый ионный микроскоп, Фокусируемый ионный пучок.
ПРЭМ
Без описания.
Новый!!: Просвечивающий растровый электронный микроскоп и ПРЭМ · Узнать больше »
Арденне, Манфред фон
Барон Манфред фон Арденне (Manfred von Ardenne; 20 января 1907, Гамбург — 26 мая 1997, Дрезден) — физик, исследователь и изобретатель, профессор, лауреат Сталинской премии (1947, 1953) и Национальной премии ГДР (1958, 1965), автор 600 патентов.
Новый!!: Просвечивающий растровый электронный микроскоп и Арденне, Манфред фон · Узнать больше »
Сканирующий гелиевый ионный микроскоп
Внешний вид Сканирующего Гелий-Ионного Микроскопа (СГИМ) Сканирующий гелиевый ионный микроскоп (СГИМ, гелий-ионный микроскоп, ионный гелиевый микроскоп, гелиевый микроскоп, HeIM) — сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов Гелия.
Новый!!: Просвечивающий растровый электронный микроскоп и Сканирующий гелиевый ионный микроскоп · Узнать больше »
Фокусируемый ионный пучок
Фокусируемый ионный луч (ФИЛ, Фокусируемый ионный пучок; Focused ion beam (FIB)) — широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, напыления и травления материалов.
Новый!!: Просвечивающий растровый электронный микроскоп и Фокусируемый ионный пучок · Узнать больше »