Логотип
Юнионпедия
Связь
Доступно в Google Play
Новый! Скачать Юнионпедия на вашем Android™ устройстве!
Установить
Более быстрый доступ, чем браузер!
 

Сканирующий гелиевый ионный микроскоп

Индекс Сканирующий гелиевый ионный микроскоп

Внешний вид Сканирующего Гелий-Ионного Микроскопа (СГИМ) Сканирующий гелиевый ионный микроскоп (СГИМ, гелий-ионный микроскоп, ионный гелиевый микроскоп, гелиевый микроскоп, HeIM) — сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов Гелия.

5 отношения: Просвечивающий электронный микроскоп, Растровый электронный микроскоп, Фокусируемый ионный пучок, Электронный микроскоп, Международная научная конференция STRANN.

Просвечивающий электронный микроскоп

нм Просвечивающий (трансмиссионный) электронный микроскоп (ПЭМ, англ, TEM - Transmission electron microscopy) — устройство для получения изображения ультратонкого образца путём пропускания через него пучка электронов.

Новый!!: Сканирующий гелиевый ионный микроскоп и Просвечивающий электронный микроскоп · Узнать больше »

Растровый электронный микроскоп

Растровый электронный микроскоп Zeiss Leo Supra 35 пыльцы позволяет оценить возможности режима ВЭ РЭМ Микрофотография интерфейса между оксидной (тёмные поля) и металлической (светлые поля) составляющими позволяет оценить возможности режима ОЭ РЭМ Растровый электронный микроскоп (РЭМ, Scanning Electron Microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв.

Новый!!: Сканирующий гелиевый ионный микроскоп и Растровый электронный микроскоп · Узнать больше »

Фокусируемый ионный пучок

Фокусируемый ионный луч (ФИЛ, Фокусируемый ионный пучок; Focused ion beam (FIB)) — широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, напыления и травления материалов.

Новый!!: Сканирующий гелиевый ионный микроскоп и Фокусируемый ионный пучок · Узнать больше »

Электронный микроскоп

Электронный микроскоп. Модель 1960-х годов Электро́нный микроско́п (ЭМ) — прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока, пучка электронов с энергиями 200 эВ — 400 кэВ и более (например, просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения с ускоряющим напряжением 1 МВ).

Новый!!: Сканирующий гелиевый ионный микроскоп и Электронный микроскоп · Узнать больше »

Международная научная конференция STRANN

Международная научная конференция STRANN (STRANN - 2009, STRANN - 2011, STRANN - 2012, STRANN - 2014, STRANN - 2016; от англ. State-of-the-art Trends of scientific Research of Artificial and Natural Nanoobjects, Cовременные тенденции научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения) берет своё начало в 2009 году.

Новый!!: Сканирующий гелиевый ионный микроскоп и Международная научная конференция STRANN · Узнать больше »

ИсходящиеВходящий
Привет! Мы на Facebook сейчас! »