17 отношения: Carl Zeiss, NV-центр, Tetrahymena, Критерий Рэлея, Когерентность (физика), Оптический микроскоп, Стеноп, Флуоресцентная микроскопия, Флуоресцентная наноскопия, Флуоресценция в биологических исследованиях, Фотоэлектронный умножитель, Электронно-лучевые приборы, Массачусетский технологический институт, Минский, Марвин Ли, Глубина резко изображаемого пространства, Двухфотонный лазерный микроскоп, Дифракционный предел.
Carl Zeiss
Zeiss AG («Цейс»; по-немецки читается Цайс а́кциэнгэзельшафт), — немецкая компания, специализирующаяся в области оптики.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Carl Zeiss · Узнать больше »
NV-центр
NV-центр или азото-замещённая вакансия в алмазе — это один из многочисленных точечных дефектов алмаза: нарушение строения кристаллической решётки алмаза, возникающее при удалении атома углерода из узла решётки и связывании образовавшейся вакансии с атомом азота.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и NV-центр · Узнать больше »
Tetrahymena
Тетрахимены (Tetrahymena) — род преимущественно свободноживущих пресноводных ресничных инфузорий, включающий около 40 валидных видов.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Tetrahymena · Узнать больше »
Критерий Рэлея
Согласно классической теории дифракции, луч света от удаленного источника, попадая в круглый окуляр, формирует изображение, состоящее из ряда светлых и темных концентрических полос вокруг яркой центральной точки, — так называемую дифракционную картину.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Критерий Рэлея · Узнать больше »
Когерентность (физика)
Когере́нтность (от cohaerens — «находящийся в связи») — в физике скоррелированность (согласованность) нескольких колебательных или волновых процессов во времени, проявляющаяся при их сложении.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Когерентность (физика) · Узнать больше »
Оптический микроскоп
Современный оптический люминесцентный тринокулярный микроскоп Оптический или световой микроско́п (от μικρός «маленький» и σκοπέω «рассматриваю») — оптический прибор для получения увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Оптический микроскоп · Узнать больше »
Стеноп
почему я должен его знать? 1:167/50 с креплением М42×1 Стено́п (от Sténopé) — фотографический аппарат без объектива, роль которого выполняет малое отверстие.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Стеноп · Узнать больше »
Флуоресцентная микроскопия
Схематическое изображение принципа действия флуоресцентного микроскопа Флуоресцентная микроскопия (fluorescence microscopy) — метод получения увеличенного изображения с использованием люминесценции возбуждённых атомов и молекул образца.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Флуоресцентная микроскопия · Узнать больше »
Флуоресцентная наноскопия
Флуоресцентная наноскопия (fluorescence nanoscopy) — метод детектирования флуоресцентных объектов с помощью оптического микроскопа, обладающий пространственным разрешением, в несколько раз превышающим теоретический предел оптической дифракции (~200 нм).
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Флуоресцентная наноскопия · Узнать больше »
Флуоресценция в биологических исследованиях
Деление раковой клетки. Изображение получено с использованием сканирующего флуоресцентного микроскопа. Специальные методы ввода флуоресцентных маркеров и использование нескольких светофильтров позволяют наблюдать одновременно за несколькими объектами. Флуоресценция нашла широкое применение в различных прикладных биологических и биомедицинских исследованияхJoseph R. Lakowicz Principles of Fluorescence Spectroscopy. — Springer Science+Business Media, 2006. — ISBN 978-0-387-31278-1.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Флуоресценция в биологических исследованиях · Узнать больше »
Фотоэлектронный умножитель
ФЭУ Фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) — электровакуумный прибор, в котором поток электронов, излучаемый фотокатодом под действием оптического излучения (фототок), усиливается в умножительной системе в результате вторичной электронной эмиссии; ток в цепи анода (коллектора вторичных электронов) значительно превышает первоначальный фототок (обычно в 105 раз и выше).
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Фотоэлектронный умножитель · Узнать больше »
Электронно-лучевые приборы
В. К. Зворыкина 1931 года. В центре колбы под углом установлена мишень, облучаемая расположенным справа сканирующим прожектором. Электронно-лучевые приборы (ЭЛП) — класс вакуумных электронных приборов, в которых используется поток электронов, сконцентрированный в форме одиночного луча или пучка лучей, которые управляются как по интенсивности (току), так и по положению в пространстве, и взаимодействуют с неподвижной пространственной мишенью (экраном) прибора.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Электронно-лучевые приборы · Узнать больше »
Массачусетский технологический институт
Массачу́сетский технологи́ческий институ́т (МТИ, Massachusetts Institute of Technology, MIT) — университет и исследовательский центр, расположенный в Кембридже (пригороде Бостона), штат Массачусетс, США.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Массачусетский технологический институт · Узнать больше »
Минский, Марвин Ли
Ма́рвин Ли Ми́нский (Marvin Lee Minsky; 9 августа 1927 — 24 января 2016) — американский учёный в области искусственного интеллекта, сооснователь Лаборатории искусственного интеллекта в Массачусетском технологическом институте.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Минский, Марвин Ли · Узнать больше »
Глубина резко изображаемого пространства
Глубина резко изображаемого пространства, Глубина резкости (ГРИП) — расстояние вдоль оптической оси объектива между двумя плоскостями в пространстве предметов, в пределах которого объекты отображаются в сопряжённой фокальной плоскости субъективно резко.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Глубина резко изображаемого пространства · Узнать больше »
Двухфотонный лазерный микроскоп
Двухфото́нный ла́зерный микроско́п — лазерный микроскоп, позволяющий наблюдать живые ткани на глубине более одного миллиметра, используя явление флуоресценции.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Двухфотонный лазерный микроскоп · Узнать больше »
Дифракционный предел
Дифракцио́нный преде́л — это минимальное значение размера пятна (пятно рассеяния), которое можно получить, фокусируя электромагнитное излучение.
Новый!!: Конфокальная микроскопия и Дифракционный предел · Узнать больше »