Логотип
Юнионпедия
Связь
Доступно в Google Play
Новый! Скачать Юнионпедия на вашем Android™ устройстве!
Скачать
Более быстрый доступ, чем браузер!
 

Сканирующий атомно-силовой микроскоп

Индекс Сканирующий атомно-силовой микроскоп

Атомно-силовой микроскоп Атомно-силовой микроскоп (АСМ, AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения.

22 отношения: Nature, Nature Methods, Куэйт, Келвин, Кантилевер, Комбинационное рассеяние света, Профилометр, Адгезия, Ангстрем, Разрешение (оптика), Сила упругости, Сканирующий туннельный микроскоп, Сканирующий зондовый микроскоп, Смачивание, Фаза колебаний, Флуоресценция, Частота, Микроэлектромеханические системы, Бинниг, Герд Карл, Гербер, Кристоф, Лазер, 1982 год, 1986 год в науке.

Nature

Nature — один из самых старых и авторитетных общенаучных журналов.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Nature · Узнать больше »

Nature Methods

Nature Methods — научный журнал, издаваемый Nature Publishing Group с 2004 года, в котором публикуются последние достижений технологий для наук о живых системах.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Nature Methods · Узнать больше »

Куэйт, Келвин

Келвин Куэйт (Calvin Forrest Quate; род. 7 декабря 1923) — американский физик.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Куэйт, Келвин · Узнать больше »

Кантилевер

Схематичное изображение зонда для сканирующей атомно-силовой микроскопии Кантилевер в сканирующем электронном микроскопе (увеличение 1000×) Игла кантилевера после использования (увеличение 3000×) Острие иглы кантилевера после использования (увеличение 50 000×) Кантиле́вер (cantilever — кронштейн, консоль) — устоявшееся название наиболее распространенной в сканирующей атомно-силовой микроскопии конструкции микромеханического зонда.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Кантилевер · Узнать больше »

Комбинационное рассеяние света

Атомно-силовой микроскоп со спектрометром, позволяющие изучать комбинационное рассеяние Комбинационное рассеяние света (эффект Рамана) — неупругое рассеяние оптического излучения на молекулах вещества (твёрдого, жидкого или газообразного), сопровождающееся заметным изменением частоты излучения.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Комбинационное рассеяние света · Узнать больше »

Профилометр

thumb Контактный профило́метр — прибор, предназначенный для измерения неровностей поверхности.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Профилометр · Узнать больше »

Адгезия

поверхностное натяжение делает их почти сферическими, а адгезия держит их на поверхности другого вещества розы как пример адгезии Адге́зия (от adhaesio — прилипание) в физике — сцепление поверхностей разнородных твёрдых и/или жидких тел.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Адгезия · Узнать больше »

Ангстрем

А́нгстрем (русское обозначение: Å; международное: Å) — устаревшая внесистемная единица измерения длины, равная 10−10 м (1 Å.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Ангстрем · Узнать больше »

Разрешение (оптика)

Разреше́ние — способность оптического прибора воспроизводить изображение близко расположенных объектов.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Разрешение (оптика) · Узнать больше »

Сила упругости

Си́ла упру́гости — сила, возникающая в теле в результате его деформации и стремящаяся вернуть его в исходное (начальное) состояние.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Сила упругости · Узнать больше »

Сканирующий туннельный микроскоп

туннельного тока;'''distance control and scanning unit''' — модуль для перемещения иглы и контроля расстояния игла-образец;'''tip''' — игла;'''sample''' — образец, карту рельефа которого требуется построить;'''tunneling voltage''';'''data processing and display''' — модуль для обработки результатов измерений и вывода карты рельефа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ, STM — scanning tunneling microscope) — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Сканирующий туннельный микроскоп · Узнать больше »

Сканирующий зондовый микроскоп

Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, SPM — Scanning Probe Microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Сканирующий зондовый микроскоп · Узнать больше »

Смачивание

Угол смачивания Сма́чивание — физическое взаимодействие жидкости с поверхностью твёрдого тела или другой жидкости.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Смачивание · Узнать больше »

Фаза колебаний

Графики двух периодических функций (колебаний) одинаковой частоты задержаны (сдвинуты) один относительно другого. Задержка во времени эквивалентна соответствующей разности фаз. Фа́за колеба́ний полная — аргумент периодической функции, описывающей колебательный или волновой процесс.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Фаза колебаний · Узнать больше »

Флуоресценция

ультрафиолетовом свете ультрафиолетовым (справа) светом. Голубая флуоресценция обусловлена наличием в напитке производных хинина. Флуоресце́нция, или флюоресценция — физический процесс, разновидность люминесценции.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Флуоресценция · Узнать больше »

Частота

Частота́ — физическая величина, характеристика периодического процесса, равна количеству повторений или возникновения событий (процессов) в единицу времени.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Частота · Узнать больше »

Микроэлектромеханические системы

МЭМС сканер. На кристалле реализован привод зеркала и само зеркало.Вариант схемы инерциального датчика Микроэлектромеханические системы (МЭМС) — устройства, объединяющие в себе микроэлектронные и микромеханические компоненты.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Микроэлектромеханические системы · Узнать больше »

Бинниг, Герд Карл

Герд Карл Би́нниг (Gerd Karl Binnig; род. 20 июля 1947) — немецкий физик, в 1986 году совместно с Генрихом Рорером получил Нобелевскую премию по физике за изобретение сканирующего туннельного микроскопа.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Бинниг, Герд Карл · Узнать больше »

Гербер, Кристоф

Кристоф Гербер (Christoph Gerber; род. 15 мая 1942) — швейцарский физик.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Гербер, Кристоф · Узнать больше »

Лазер

Лазер (лаборатория NASA). Лазерное излучение с длинами волн (снизу вверх): 405, 445, 520, 532, 635 и 660 нм. Ла́зер (от laser, акроним от light amplification by stimulated emission of radiation «усиление света посредством вынужденного излучения»), или опти́ческий ква́нтовый генера́тор — это устройство, преобразующее энергию накачки (световую, электрическую, тепловую, химическую и др.) в энергию когерентного, монохроматического, поляризованного и узконаправленного потока излучения.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и Лазер · Узнать больше »

1982 год

Почтовая марка СССР, 1982 год.

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и 1982 год · Узнать больше »

1986 год в науке

«Челленджер».

Новый!!: Сканирующий атомно-силовой микроскоп и 1986 год в науке · Узнать больше »

Перенаправления здесь:

AFM, Атомно-силовая микроскопия, Атомно-силовой микроскоп, Сканирующий Атомно-Силовой Микроскоп.

ИсходящиеВходящий
Привет! Мы на Facebook сейчас! »