Содержание
9 отношения: Крип (значения), Пьезокерамика, Ползучесть материалов, Особенность-ориентированное сканирование, Растр, Сканирующий атомно-силовой микроскоп, Сканер, Встречно-сканированные изображения, Логарифм.
- Микроскопы
- Сканирующий зондовый микроскоп
Крип (значения)
* Ползучесть материалов — медленная, происходящая с течением времени деформация твёрдого тела под воздействием постоянной нагрузки или механического напряжения.
Посмотреть Встречное сканирование и Крип (значения)
Пьезокерамика
Пьезокера́мика — искусственный материал, обладающий пьезоэлектрическими и сегнетоэлектрическими свойствами, имеющий поликристаллическую структуру.
Посмотреть Встречное сканирование и Пьезокерамика
Ползучесть материалов
Ползучесть материалов (последействие) — медленная, происходящая с течением времени деформация твёрдого тела под воздействием постоянной нагрузки или механического напряжения.
Посмотреть Встречное сканирование и Ползучесть материалов
Особенность-ориентированное сканирование
Особенность-ориентированное сканирование (ООС, FOS – feature-oriented scanning) — способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда микроскопа.
Посмотреть Встречное сканирование и Особенность-ориентированное сканирование
Растр
Растр (Raster, от rastrum — грабли) — многозначный термин.
Посмотреть Встречное сканирование и Растр
Сканирующий атомно-силовой микроскоп
Атомно-силовой микроскоп Атомно-силовой микроскоп (АСМ, AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения.
Посмотреть Встречное сканирование и Сканирующий атомно-силовой микроскоп
Сканер
Сканер (scanner, от scan «пристально разглядывать, рассматривать») — устройство ввода, которое, анализируя какой-либо объект (обычно изображение, текст), создаёт его цифровое изображение.
Посмотреть Встречное сканирование и Сканер
Встречно-сканированные изображения
Встречно-сканированные изображения (ВСИ, CSI, CSIs — counter-scanned images) — пара изображений, получаемая при встречном сканировании.
Посмотреть Встречное сканирование и Встречно-сканированные изображения
Логарифм
двоичного логарифма Логари́фм числа b по основанию a (от λόγος — «слово», «отношение» и ἀριθμός — «число») определяется как показатель степени, в которую надо возвести основание a, чтобы получить число b.
Посмотреть Встречное сканирование и Логарифм
См. также
Микроскопы
- Встречное сканирование
- Дифракционный предел
- Ионный проектор
- Микрозонд
- Микроскоп
- ООП
- Оптический микроскоп
- Особенность-ориентированное сканирование
- Пленоптическая камера
- Рентгеновский микроскоп
- Рентгеноспектральный микроанализ
- Сканирующий гелиевый ионный микроскоп
- Сканирующий микроскоп
- Сканирующий туннельный микроскоп
- Стереомикроскоп
- Ультрамикроскоп
- Фазово-контрастная микроскопия
- Флуоресцентная микроскопия
- Электронный микроскоп
Сканирующий зондовый микроскоп
- Millipede
- Ближнепольная оптическая микроскопия
- Встречное сканирование
- Магнитно-силовая микроскопия
- ООП
- Сканирующая туннельная спектроскопия
- Сканирующий атомно-силовой микроскоп
- Сканирующий зондовый микроскоп
- Сканирующий туннельный микроскоп
Также известен как ВСИ.