Сканирующий микроскоп

Скани́рующий (ра́стровый) микроско́п.

4 отношения: Растровый электронный микроскоп, Сканирующий туннельный микроскоп, Сканирующий атомно-силовой микроскоп, Сканирующий зондовый микроскоп.

Растровый электронный микроскоп

Растровый электронный микроскоп Zeiss Leo Supra 35 пыльцы позволяет оценить возможности режима ВЭ РЭМ Микрофотография интерфейса между оксидной (тёмные поля) и металлической (светлые поля) составляющими позволяет оценить возможности режима ОЭ РЭМ Растровый электронный микроскоп (РЭМ, Scanning Electron Microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв.

Новый!!: Сканирующий микроскоп и Растровый электронный микроскоп · Узнать больше »

Сканирующий туннельный микроскоп

туннельного тока;'''distance control and scanning unit''' — модуль для перемещения иглы и контроля расстояния игла-образец;'''tip''' — игла;'''sample''' — образец, карту рельефа которого требуется построить;'''tunneling voltage''';'''data processing and display''' — модуль для обработки результатов измерений и вывода карты рельефа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ, STM — scanning tunneling microscope) — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением.

Новый!!: Сканирующий микроскоп и Сканирующий туннельный микроскоп · Узнать больше »

Сканирующий атомно-силовой микроскоп

Атомно-силовой микроскоп Атомно-силовой микроскоп (АСМ, AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения.

Новый!!: Сканирующий микроскоп и Сканирующий атомно-силовой микроскоп · Узнать больше »

Сканирующий зондовый микроскоп

Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, SPM — Scanning Probe Microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик.

Новый!!: Сканирующий микроскоп и Сканирующий зондовый микроскоп · Узнать больше »

Перенаправления здесь:

Растровый микроскоп, Микроскоп сканирующий.

Юнионпедия это понятие карту или семантическая сеть организована как энциклопедия или словарь. Это дает краткое определение каждому понятию и его отношений.

Это гигантский онлайн ментальная карта, которая служит в качестве основы для концептуальных диаграмм или синтетических фотографий. Это бесплатно в использовании и каждый элемент или документ может быть загружен. Это инструмент, ресурс или ссылка для изучения, исследования, образование, обучение, учителя могут использовать, учителей, профессоров, преподавателей, учеников или студентов; или школа для академического мира, в школу, начальное, среднее, средней, колледж, технической степени, университет, студентов, магистров или докторские степени; для бумаг, отчетов, документов, проектов, идей, документации, резюме, обследований или диссертации. Вот определение, объяснение, описание, или смысл каждого значительным, на котором вам нужна информация, а также список или перечень соответствующих концепций, как кажется глоссарий. Доступна на русский, английский, испанский, португальский, японский, китайский, французский, немецкий, итальянский, польский, нидерландский, арабский, хинди, шведский, украинский, венгерский, каталанский, чешский, иврит, датский, финский, индонезийский, Норвежский, румынский, турецкий, вьетнамский, корейский, тайский, греческий, болгарский, хорватский, словацкий, литовский, филиппинский, латышский, эстонский и словенский. Другие языки в ближайшее время.

Вся информация была извлечена из Википедия, и это доступно в соответствии с лицензией Creative Commons Attribution-ShareAlike.

Юнионпедия не одобрена Фондом Викимедиа и не связана с ним.

Google Play, Android и логотип Google Play являются товарными знаками корпорации Google Inc.

Политика конфиденциальности